Dla firm

Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej jest wiodącym ośrodkiem naukowym w obszarze nauk ścisłych w Polsce. Jest częścią Krakowskiego Konsorcjum Naukowego im. Mariana Smoluchowskiego wyróżnionego statusem KNOW (2012-2017) oraz posiada kategorię naukową A+ w klasyfikacji Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego. Dysponujemy nowoczesnymi laboratoriami oraz pełną wiedzą ekspercką służącą do ich wykorzystania.

Poniżej prezentujemy wykaz aparatury badawczej, która może być wykorzystana na potrzeby badań zleconych. Szerokie spektrum dostępnych urządzeń i technik badawczych można podzielić na m. in. następujące specjalizacje:

  • badanie właściwości optycznych materiałów (fluorescencyjnych, absorpcyjnych) oraz wyznaczanie wydajności kwantowej np. ogniw słonecznych;
  • wyznaczanie struktury chemicznej i elektronowej materiałów z wykorzystaniem metod spektroskopii fotoelektronów;
  • badanie składu próbek metodą spektrometrii mas wtórnych jonów;
  • badanie właściwości magnetycznych, magneto-transportowych, kalorymetrycznych i elektrycznych, w szerokim zakresie temperatur, metodami m. in. spektroskopii mossbauerowskiej i magnetycznego rezonansu jądrowego;
  • skaningowe metody obrazowania (AFM, SEM, FIB) powierzchni w środowisku warunków naturalnych, w cieczy jak i w próżni;
  • metody mikro-obrazowania rentgenowskiego;
  • przygotowywania cienkich warstw metodami rozpylania jonowego jak i epitaksji z wiązki molekularnej jak i hodowla monokryształów metodą Czochralskiego.

Kompleksowym badaniom mogą być poddane próbki nieorganiczne jak i biologiczne. Dodatkowych informacji udzielają osoby kontaktowe podane przy odpowiedniej metodzie badawczej.

DOSTĘPNA APARURA I OFEROWANE USŁUGI POMIAROWE:

Laboratorium Optyki Rentgenowskiej

dr hab. Paweł Koreckitel: 12 664 4627, e-mail: pawel.korecki@uj.edu.pl Podstawowe typy pomiarów: - Testowanie i charakteryzacja rentgenowskich elementów optycznych używanych w pracowniach rentgenowskich i na synchrotronach - Testowanie i kalibracja detektorów pozycyjnych i punktowych - Mikro-obrazowanie rentgenowskie (absorpcyjne, fazowe, fluorescencyjne). Rozdzielczość ok. 5 mikronów. Możliwość pracy z nietypowymi (np. dużymi) próbkami. Układ eksperymentalny ma modułową konstrukcję i może być modyfikowany dla potrzeb specyficznych zastosowań. Aparatura: - Lampy rentgenowskie (Mo, W) z mikro-ogniskiem (Oxford Instruments) - Detektory pozycyjne: sCMOS 4M (Photonic Science), hybrydowy detektor pikselowy 65K (Advacam) - Kolimacyjne i skupiające elementy polikapilarne (IfG) - Detektory (PIN oraz SDD) (Amptek) - Zmotoryzowane precyzyjne przesuwy liniowe i obrotowe (Huber, Standa) . Możliwość implementacji 16 niezależnych ruchów lub obrotów. Piezo-stoliki XYZ (Mechonics)

Laser 1560 nm z układem generacji drugiej harmonicznej

prof. dr hab. Wojciech Gawliktel: 12 664 47 00, e-mail: gawlik@uj.edu.pl Laser światłowodowy 1560 nm z układem generacji drugiej harmonicznej. Parametry lasera światłowodowego: • długość fali: 1560 nm • moc wyjściowa: 15 W • strojenie częstotliwości laserowej: zgrubne 20 GHz i precyzyjne 200 MHz • szerokość linii laserowej (20 ms): < 10 kHz • stabilność częstotliwości (1 godz.): 20 MHz • częstotliwość szybkiej modulacji: 10 kHz • polaryzacja światła wychodzącego: PER > 20 dB • wyjście: jednomodowe, kolimator optyczny • kształt wiązki: TEM 00 • rozbieżność: < 1 mrad • izolator optyczny na wyjściu

Laser Ti:szafir z układem generacji drugiej harmonicznej

prof. dr hab. Wojciech Gawliktel: 12 664 47 00, e-mail: gawlik@uj.edu.pl Laser Ti:szafir z układem generacji drugiej harmonicznej • szerokość linii widmowej lasera poniżej 10 kHz, • długoczasowy dryf częstotliwości poniżej 40 MHz/godz. • wzbudzanie laserem pompującym 532 nm o mocy 10 W, • moc generowanego promieniowanie nie mniej niż 1 W. • zakres przestrajania 695 do 950 nm.

Lasery diodowe z zewnętrznym rezonatorem

prof. dr hab. Wojciech Gawliktel: 12 664 47 00, e-mail: gawlik@uj.edu.pl Lasery diodowe z zewnętrznym rezonatorem. Układ składa się z trzech laserów diodowych wyprodukowanych przez firmę Sacher Lasertechnik: dwóch laserów typu Lynx-TEC-120-0780 i jednego typu Lion-TEC-520-0780-100. Parametry laserów typu Lynx (typu Lion): • laser jednomodowy pracy ciągłej, • zakres długości fali 770-795 nm, • moc 150 mW (100 mW), • zakres przestrajania 25 nm, • przestrajanie bez przeskoku modu 30 GHZ (50 GHz), • szerokość spektralna typowo < 1 MHz ( < 0,5 MHz). Lasery wyposażone są w dwustopniowy izolator optyczny na wyjściu, dodatkowe wyjście wiązki do stabilizacji częstości laserów, układ sterownika prądu lasera i stabilizacji temperatury oraz układ szybkiej stabilizacji częstości lasera.

Mikroskop fluorescencyjny Olympus BX-51

dr hab. Jakub Rysz tel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl Mikroskop fluorescencyjny Olympus BX-51 umożliwia obserwację w transmisji i odbiciu, wyposażony jest w: • kamerę CCD typu DP72 o rozdzielczości 12,8 mega z matrycą chłodzoną elementem Peltiera; • oświetlacz halogenkowy oraz zestaw filtrów pozwalający na obserwację fluorescencji typowych barwników; • polaryzatory pozwalające na obserwację w świetle spolaryzowanym.

Mikroskop konfokalny

dr hab. Zenon Rajfurtel. 12 664 4688, e-mail: zenon.rajfur@uj.edu.pl Mikroskop Zeiss Axio Observer Z1 z modułem konfokalnym LSM 710, systemem FLIM i komorą środowiskową do pomiarów przyżyciowych.

Mikroskop polaryzacyjny

dr hab. Monika Marzectel: 12 664 45 49, e-mail: monika.marzec@uj.edu.pl Mikroskop polaryzacyjny NIKON ECLIPSE LV100POL DIA/EPI wraz z zestawem do kontroli temperatury próbek pozwala na prowadzenie badań przejść fazowych z kontrolowaną szybkością zamian temperatury zarówno podczas ogrzewania jak i ochładzania w przedziale temperatur – 196 st. C ÷ +350 st. C. Układ ten można stosować do badania cienkich warstw ciekłych kryształów z możliwością stosowania wielu mikroskopowych technik obserwacji - zarówno w świetle odbitym jak i przechodzącym. Dostępne są obiektywy 5x, 10x, 50x.

Mikroskop skanującego próbnika typ Agilent5500

dr hab. Jakub Rysz tel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl Mikroskop SPM Agilent 5500 pozwala na pomiary topografii (AFM), właściwości mechanicznych (LFM), elektrycznych (SSRM, KRM), magnetycznych (MFM) w trybie kontaktowym oraz bezkontaktowym zarówno w cieczy, jak i w powietrzu, dodatkowa przystawka pozwala na pomiary STM. Komora środowiskowa oraz precyzyjny system grzania (do 250°C) i chłodzenia (do -30°C) pozwalają na prowadzenie pomiarów w kontrolowanych warunkach środowiska. Dwie teflonowe komórki cieczowe (przepływowa i o stałej objętości), dodatkowe zabezpieczenia skanera oraz pozostałych elementów mikroskopu pozwalają na badanie powierzchni próbek również w środowisku rozpuszczalników organicznych.

Mikroskop Zeiss

dr hab. Zenon Rajfurtel. 12 664 4688, e-mail: zenon.rajfur@uj.edu.pl Mikroskop Zeiss Axio Examiner z systemem Patch Clamp.

Mikrotomograf komputerowy

dr hab. Roman Pędrystel: 12 664 43 70 e-mail: ufpedrys@cyf-kr.edu.pl Mikrotomograf SkyScan 1172 pozwala na określanie struktury obiektów o maksymalnej średnicy 6 cm i wysokości 9 cm. Wyposażony jest w lampę rentgenowską o mocy 8 W i maksymalnym napieciu 80 kV. Kolejne projekcje rejestrowane są przy pomocy ciałostałowego detektora dysponujacego matyrcą 4024 x 2680 pikseli. Wielkość piksela na obrazie można ustalić od 0.5um do 27 um. Mikrotomograf SkyScan 1172 przeznaczony jest do prowadzenia badań materiałowych oraz biomedycznych. Urządzenie obsługiwane jest przez wysokiej klasy klaster kompuiterowy o dużej mocy obliczeniowej.

Piec do hodowli monokryształów

dr hab. Edward A. Görlichtel: 12 664 48 20, e-mail: ufgoerli@cyf-kr.edu.pl Piec do hodowli monokryształów CZ-Flux-Puller firmy Surface Net wyposażony w wyciągarkę Czochralskiego pozwala na hodowlę monokryształów materiałów przewodzących i nieprzewodzących. Grzanie w zakresie temperatur do 2500°C odbywa się metodą indukcyjną. Proces wzrostu kryształów odbywać się może w atmosferze argonu lub wodoru przy ciśnieniach -1.0 - 10 barów. Aparatura komplementarna: kamera Lauego firmy Photonic Science do dyfrakcyjnej charakteryzacji i orientowania monokryształów; trzystrefowy piec rurowy OTF-1200X-80-III firmy MTI z rurą kwarcową do wygrzewania w zakresie temperatur do 1200°C; piec muflowy KSL-1100X firmy MTI do wygrzewania w temperaturze do 1100°C z możliwością przepływu gazu w komorze grzania.

Pierścieniowy laser impulsowy

prof. dr hab. Jarosław Koperskitel: 12 664 46 75, e-mail: ufkopers@cyf-kr.edu.pl System pierścieniowego lasera impulsowego z systemami generacji harmonicznych oraz kontrolowanymi laserami diodowymi do zewnętrznego "posiewu" częstotliwości (Light Age). System charakteryzuje się następującymi parametrami: • przestrajalna częstotliwość podstawowa odpowiadająca zakresowi 720-800 nm, • energia w impulsie ≥ 80 mJ dla częstotliwości podstawowej, • przestrajalna druga częstotliwość harmoniczna odpowiadająca zakresowi 360-400 nm, • energia w impulsie ≥ 30 mJ dla 387 nm, • przestrajalna trzecia częstotliwość harmoniczna odpowiadająca zakresowi 240-266 nm, • energia w impulsie ≥ 10 mJ dla 259 nm, • szerokość spektr. ≤ 30 MHz dla 750-800 nm, 375-400 nm i 250-266 nm, • szerokość spektr. ≤ 5 GHz dla 720-750 nm, 360-375 nm i 240-250 nm, • czas trwana impulsu 100±25 ns z Q-przełączaniem, • częstość repetycji 10 Hz, • polaryzacja liniowa promieniowania laserowego, • "posiew" częstotliwości za pomocą zewnętrznego lasera diodowego.

Profilometr interferencyjny światła białego FRBasic

dr hab. Jakub Rysz tel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl Profilometr interferencyjny światła białego FRBasic (prod. Thetametrisis) pozwala na niedestrukcyjny pomiar grubości cienkich warstw w zakresie od kilku nm do kilku um. Dodatkowe eyposażenie umożliwia pomiar współczynnika absorpcji, transmisji oraz odbicia, jak również widma fluorescencji.

Różnicowy kalorymetr skaningowy DIAMAND 8000

dr hab. Monika Marzectel: 12 664 45 49, e-mail: monika.marzec@uj.edu.pl Różnicowy kalorymetr skaningowy PERKIN ELMER DIAMOND 8000 DSC pozwala na prowadzenie badań termicznych właściwości oraz stabilności materiałów w zakresie temperatur od -180 st. C ÷ +720 st. C. Kalorymetr różnicowy składa się z dwóch identycznych, odizolowanych od siebie, naczyniek kalorymetrycznych. Oba naczyńka mają własne grzałki i własne termometry platynowe. W czasie ogrzewania do grzejników dostarczana jest taka moc, aby zmieniać temperaturę zgodnie z zadanym programem zmian temperatury. Badania można prowadzić przy różnych szybkościach ogrzewania i ochładzania, a także w funkcji czasu. Zaletą tej aparatury jest możliwość zastosowania bardzo małych ilości próbek, rzędu 1 mg.

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM), mikroskop wiązki jonowej (FIB)

dr hab. Franciszek Krok, prof. UJtel: 12 664 46 32, e-mail: franciszek.krok@uj.edu.pl Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) typu Quanta 3D jest wszechstronnym instrumentem pozwalającym na określanie właściwości materiałów i ich składu pierwiastkowego. Obrazowanie próbek można przeprowadzać w trzech trybach: wysokiej próżni, niskiej próżni oraz, szczególnie dla badań obiektów biologicznych, trybie środowiskowym (ESEM). SEM posiada detektor typu S/TEM dla badań prowadzonych w jasnym i ciemnym polu obrazowania próbek. Mikroskop SEM jest wyposażony w detektory analizy fluorescencji rentgenowskiej (EDS oraz WDS) pozwalające na prowadzenie analizy chemicznej badanych próbek o poziomie czułości rzędy 0.1% składu próbki. Dodatkowo SEM posiada układ badania dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych pozwalający na obrazowanie/określanie orientacji ziaren krystalograficznych próbek. Mikroskop SEM jest zintegrowany z kolumną (mikroskopem) skanującej zogniskowanej wiązki jonowej (FIB). Używanie wiązki jonowej pozwala na modyfikacje powierzchni badanych próbek. Umożliwia także przygotowywania specyficznych obszarów próbek do badania ich przekrojów poprzecznych za pomocą mikroskopii transmisyjnej (TEM). Duża komora pozwala na badania układów o stosunkowo dużych rozmiarach.

Spektrometr mössbauerowski z kriostatem helowym

prof. dr hab. Jan Stanektel: 12 664 45 37, e-mail: jan.stanek@uj.edu.pl Układ pomiarowy tworzą dwa spektrometry mössbauerowskie oraz kriostat helowy. Każdy ze spektrometrów składa się z przetwornika prędkości pozwalającego na poruszanie źródłem promieniotwórczym z prędkością do 300 mm/s, ksenonowego licznika proporcjonalnego oraz zintegrowanego przedwzmacniacza ładunkowego wraz ze wzmacniaczem. Układ napędu przetwornika prędkości, generator funkcyjny oraz zasilacz wysokiego napięcia zasilane są poprzez kasetę systemu NIM. Układ akwizycji danych CMCA-550 przystosowany do współpracy z komputerem osobistym, pozwala nie tylko na pracę w systemie spektrometru, ale także dzięki systemowi analizy wysokości impulsów, pozwala na wybór okna energetycznego. Układ przystosowany jest do pomiarów mössbauerowskich z wykorzystaniem źródła promieniotwórczego 57Co. Kriostat helowy typu zanurzeniowego jest dedykowany do spektrometrii mössbauerowskiej z chłodzonym absorbentem. Zapewnia on stabilną temperaturę w zakresie od 2.3 K do 300 K, niskie zużycie cieczy kriogenicznych oraz doskonałą geometrię pomiaru. Wyniki pomiarów mogą być opracowywane przy pomocy załączonego zaawansowanego oprogramowania do obróbki numerycznej widm mössbauerowskich.

Spektrometr do badań magnetycznego dichroizmu kołowego

dr hab. Zbigniew Tomkowicztel: 12 664 45 96, 12 664 47 92, e-mail: z.tomkowicz@uj.edu.pl Spektrometr J815 (prod. Jasco) wchodzi w skład układu do badań magnetycznego dichroizmu kołowego (MCD). Spektrometr ten współpracuje w zestawie z magnetooptycznym kriostatem (prod. Oxford Instruments) wyposażonym w magnes nadprzewodzący generujący podłużne pole magnetyczne o indukcji do 10 T. Zakres długości fal wynosi 163 - 1100 nm, zakres temperatur 1.5 - 300 K. Spektroskopia MCD nadaje się do badania właściwości magnetycznych substancji molekularnych, w tym kompleksów metali przejściowych i metaloenzymów (a ściślej ich centrów aktywnych). Próbkuje nie tylko stany podstawowe, ale i wzbudzone. Możliwy jest pomiar orbitalnych momentów magnetycznych oraz dużych wartości (powyżej 100 cm-1) przerwy energetycznej między stanem podstawowym a najbliższymi stanami wzbudzonymi.

Spektrometr fotoelektronów XPS, UPS

dr hab. Paweł Starowicztel: 12 664 45 45 e-mail: pawel.starowicz@uj.edu.pl Spektrometr fotoelektronów XPS, UPS służy do badań struktury elektronowej materiałów w ultrawysokiej próżni metodami spektrodkopii fotoemisyjnej przy wzbudzeniu promieniami X (XPS), ultrafioletem (UPS) oraz kątoworozdzelczej spektroskopii fotoemisyjnej (ARPES). Możliwe jest wyznaczanie energii elektronów w stanach rdzeniowych atomów, kształtu pasma walencyjnego, struktury pasmowej oraz powierzchni Fermiego.

Spektrometr impedancyjny

prof. dr hab. Józef Mościckitel: 12 664 46 40 e-mail: jkmoscic@gmail.com Spektrometr impedancyjny (prod. Novocontrol) Alpha-AN 3uHz - 20MHz, z systemem kontroli temperatury -100…+250 st. C, do pomiaru próbek stałych (pastylki) i ciekłych. Możliwość opracowania wyników na miejscu pakietem WinDETA-ALL + WinTEMP + WINPLOT + WinFIT

Spektrometr magnetycznego rezonansu jądrowego WNS HB65

prof. dr hab. Kazimierz Łątka, dr hab. Hubert Harańczyktel: 12 664 46 68, e-mail: uflatka@cyf-kr.edu.pl tel: 12 664 46 14, e-mail: hubert.haranczyk@uj.edu.pl System składa się z: • spektrometru HB65, • magnesu rezystywnego do 30 MHz dla 1H, • głowicy pomiarowej selektywnej na 1H, • regulatora temperatury próbki, • stacji roboczej z oprogramowaniem HPSGQBX. System umożliwia pomiary w domenie czasu (pomiary relaksacyjne) 1H-NMR w zakresie temperatur -60°C..100°C. Doskonałe parametry techniczne aparatury, a w szczególności wysoka moc impulsu (tπ/2=1,5 us), umożliwiają wszechstronne badania układów mikroheterogennych (w tym biologicznych).

Spektrometr mössbauerowski

prof. dr hab. Antoni Pędziwiatr, dr Bogdan Bogacztel: 12 664 45 27, e-mail: antoni.pedziwiatr@uj.edu.pl, tel: 12 664 45 05, e-mail: bogdan.bogacz@uj.edu.pl Układ do badań metodą spektroskopii mössbauerowskiej marki Wissel GmbH służy do prowadzenia pomiarów metodą spektroskopii mössbauerowskiej w szerokim zakresie temperatur.

Spektrometr rezonansu jądrowego wraz z zestawem komputerowym i oprogramowaniem BioSpin AVANCE III 300 MHz (Bruker)

prof. dr hab. Kazimierz Łątka, dr hab. Hubert Harańczyktel: 12 664 46 68, e-mail: uflatka@cyf-kr.edu.pl tel: 12 664 46 14, e-mail: hubert.haranczyk@uj.edu.pl System składa się z: • spektrometru AVANCE III 300, • magnesu nadprzewodzącego 300 MHz typu wide bore, • głowicy pomiarowej wysokiej mocy na zakresy 19F-1H oraz 15N-31P, • regulatora temperatury próbki, • stacji roboczej z oprogramowaniem TopSpin 3.0. Tak wyposażony system umożliwia pomiary zarówno w domenie częstości (widm MRJ), jak i w domenie czasu (pomiary relaksacyjne) dla wszystkich najważniejszych nuklidów obecnych w układach biologicznych, w tym 1H, 2D, 13C, 19F, 23Na czy 31P. Wszechstronne oprogramowanie eksperymentu MRJ najnowszej generacji pozwala na używanie wszystkich powszechnie stosowanych metod impulsowych MRJ. Doskonałe parametry techniczne aparatury, a w szczególności wysoka moc impulsu, umożliwiają badania obiektów biologicznych o naturze ciała stałego w szerokim zakresie temperatur.

Spektrometr wraz z kamerą CCD ze wzmacniaczem obrazu

dr hab. Krzysztof Dzierżęga, prof. dr hab. Wojciech Gawliktel: 12 664 46 84, e-mail: krzysztof.dzierzega@uj.edu.pl tel: 12 664 47 00, e-mail: gawlik@uj.edu.pl Zestaw składa się z: • Spektrometru wyposażonego w trzy siatki dyfrakcyjne o liczbie rys/mm 150, 1200 i 2400. Spektrometr działa w zakresie od 180 nm do 900 nm, jego maksymalna zdolność rozdzielcza wynosi 0.03 nm, • Kamery CCD ze wzmacniaczem obrazu. Powierzchnia elementu światłoczułego wynosi 18 mm x 18 mm, 1024x1024 pikseli, rozmiar pojedynczego piksela: 13 um x 13um. Stosując układ bramkowania impulsowego można rejestrować procesy dynamiczne z minimalną czasową zdolnością rozdzielczą poniżej 2 ns. Zakres spektralny kamery wynosi 200-850 nm, komunikacja odbywa się przez port USB. Zestaw spektrometru i kamery stanowi narzędzie umożliwiające badania z zakresu spektroskopii, optyki kwantowej, optyki nieliniowej i fotoniki w bardzo szerokim zakresie, a ponadto może być wykorzystywany w badaniach z zakresu zaawansowanych materiałów, fizyki medycznej, biofizyki i biotechnologii.

Stanowisko do badań dielektrycznych z wyposażeniem NOVOCONTROL

dr hab. Monika Marzectel: 12 664 45 49, e-mail: monika.marzec@uj.edu.pl Szerokopasmowy spektrometr dielektryczny CONCEPT 81 pozwala na prowadzenie badań dielektrycznych w zakresie częstości od 1 uHz - 10 MHz. Wchodzący w skład zestawu dewar azotowy zapewnia długoczasowe (nawet do kilku dni) pomiary w zakresie temperatur od -100 st. C - +200 st. C. Zestaw wyposażony jest w komputer z oprogramowaniem zarówno do sterowania eksperymentem w domenie częstości jak i do obróbki danych doświadczalnych, z zastosowaniem kilku wybranych modeli teoretycznych.

Stanowisko do osadzania układów wielowarstwowych techniką rozpylania jonowego oraz urządzenie do wytwarzania cienkich warstw metoda epitaksjalną

prof. dr hab. Rafał Abdank-Kozubskitel: 12 664 47 16, e-mail: rafal.kozubski@uj.edu.pl Aparatura umożliwia osadzanie cienkich wartw materiałów dwiema metodami: • techniką rozpylania jonowego • metodą epitaksjalną (MBE). Urządzenie pracuje w warunkach ultra-wysokiej próżni (UHV) i jest wyposażone w niezbędne układy pomiarowe, grzejne oraz mechaniczne, jak również w walizki próżniowe. Jest dostosowane do osadzania warstw metali trudnotopliwych.

Superkomputer "Deszno"

prof. dr hab. Edward Malectel: 12 664 46 70 e-mail: malec@th.if.uj.edu.pl Superkomputer o strukturze modułowej i łącznej liczbie 576 rdzeni. Każdy z 6 węzłów obliczeniowych ma pamięć operacyjną 256 GB i działa jako wieloprocesorowy komputer współdzielący pamięć operacyjną. Najistotniejszą cechą urządzenia jest możliwość uruchomienia zadań w technologii OpenMP (Open Multi-Processing) i prowadzenia rachunków wieloprocesorowych.

System "szczypce optyczne"

prof. dr hab. Józef Mościckitel: 12 664 46 40 e-mail: jkmoscic@gmail.com Optyczna pinceta PALM MicroTweezers (prod. Zeiss) umożliwia pomiar sił zewnętrznych działających na takie objekty, jak komórki, kryształy czy nanoziarna różnych materiałów. Pozwala na badanie wielkości sił na poziomie nawet sub-pN, typowych dla zjawisk biomechanicznych na poziomie komórek i biopolimerów. Urządzenie pracuje na silnie zogniskowanej przez obiektyw o wysokiej aperturze numerycznej ciągłej wiązce lasera 1064nm, 3W. Pozwala to na pułapkowanie cząstek o wielkości od około 0,1 μm do 100 μm i pomiar w zakresie od ok. 0.1 pN do 200 pN.

System aparatury próżniowej z modułem źródła wiązki naddźwiękowej

prof. dr hab. Jarosław Koperskitel: 12 664 46 75, e-mail: ufkopers@cyf-kr.edu.pl System aparatury próżniowej (PREVAC), do wykorzystania jako układ z naddźwiękową wiązką molekularną do eksperymentów spektroskopowych. Komora główna ze stelażem wykonana ze stali nierdzewnej, z zamocowanym wewnątrz skimerem, który dzieli komorę na dwie strefy. W komorze przed skimerem ciśnienie bazowe <1x10-6 mbar ; w komorze za skimerem - <1x10-8 mbar. Komora główna jest wyposażona w Moduł źródła wiązki naddźwiękowej umieszczony w manipulatorze UHV, trójosiowy (XYZ) do pozycjonowania źródła wiązki. Moduł źródła wiązki naddźwiękowej umożliwia tworzenie wiązki molekuł w sposób impulsowy. Możliwość pracy modułu źródła w temperaturach 20°C - 700°C. Zakres ciśnień pracy modułu 0 - 12 atm.

System charakteryzacji ogniw słonecznych

dr hab. Jakub Rysz tel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl System zbudowany w oparciu o elementy firmy Newport pozwala na wyznaczanie wydajności kwantowej ogniw słonecznych, badanie absorpcji optycznej oraz wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych bez i z oświetleniem AM1.5G.

System do pomiarów kąta zwilżania oraz wyznaczania napięcia powierzchniowego metodą kropli wiszącej typu EasyDrop (Kruss)

dr hab. Jakub Rysz tel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl System EasyDrop pozwala na wyznaczenie napięcia powierzchniowego dowolnej cieczy metodą kropli wiszącej oraz wyznaczenie kąta zwilżania. Dzięki dodatkowej komorze wszystkie parametry mogą być wyznaczane w funkcji temperatury.

System femtosekundowego lasera impulsowego z wyposażeniem

dr hab. Krzysztof Dzierżęga, prof. dr hab. Wojciech Gawliktel: 12 664 46 84, e-mail: krzysztof.dzierzega@uj.edu.pl, tel: 12 664 47 00, e-mail: gawlik@uj.edu.pl Laser impulsowy femtosekundowy jest innowacyjnym źródłem światła. Składa się z oscylatora Ti-Light, producent: Quantronix (laser tytanowo-szafirowy ze stabilizacją modów zintegrowany z pompującym laserem) oraz wzmacniacza Odin II, producent: Quantronix (wieloprzebiegowy wzmacniacz tytanowo-szafirowy zintegrowany z dwoma laserami pompującymi), dzięki któremu układ wytwarza ultrakrótkie impulsy promieniowania o bardzo dużej mocy chwilowej. Podstawowe parametry generowanych impulsów: max. energia impulsu 6mJ, czas trwania 25 fs, częstotliwość repetycji 1 kHz, centralna długość fali ok. 800 nm. W skład systemu wchodzi również następujące wyposażenie: • układ do pełnej diagnostyki femtosekundowych impulsów laserowych GRENOUILLE, model 8-20-USB (Producent: Swamp Optics), • spektrometr diagnostyczny, model CCS20013 (Producent: Thorlabs), • stół optyczny, model PTQ51514 (Producent: Thorlabs), • oscyloskopy cyfrowe, modele DPO 5104 i TDS2012C (2 szt.) (Producent: Tektronix), • przetwornik czas/cyfra, model P7887 (Producent: FAST ComTec GmbH).

System lasera OPO: optyczny oscylator parametryczny z laserem pompującym

dr hab. Krzysztof Dzierżęga, prof. dr hab. Wojciech Gawliktel: 12 664 46 84, e-mail: krzysztof.dzierzega@uj.edu.pl tel: 12 664 47 00, e-mail: gawlik@uj.edu.pl System składa się z: • nanosekundowego lasera pompującego typu Nd:YAG o czasie trwania 3 ns (@1064nm) i energii w impulsie do 250 mJ działającego w pojedynczym modzie podłużnym, co daje wąską spektralnie linię laserową o szerokości (FWHM) nie przekraczającej 0.01 cm-1. Ponadto, układ wyposażony jest w generator drugiej harmonicznej (532 nm), której energia osiąga 120 mJ. • optycznego oscylatora parametrycznego (OPO), który pompowany laserem Nd:YAG emituje promieniowanie w zakresie 420-2300 nm, o energii 1-20 mJ (w zależności od zakresu) i szerokości spektralnej nie większej niż 2 cm-1. Przestrajanie długości fali OPO i kontrola parametrów jego pracy odbywają się za pomocą komputera. System OPO wraz z laserem pompującym pozwalają na prowadzenie badań z zakresu spektroskopii laserowej, optyki kwantowej, optyki nieliniowej i fotoniki w zakresie widzialnym i bliskiej podczerwieni. Ponadto może być wykorzystywany w badaniach z zakresu zaawansowanych materiałów, fizyki medycznej, biofizyki i biotechnologii.

System statycznej i dynamicznej spektrometrii mas jonów wtórnych TOF-SIMS

dr hab. Jakub Rysztel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl System TOF-SIMS 5 firmy ION-TOF pozwala na pracę w modzie statycznym oraz dynamicznym (z jednym lub dwoma działami), rejestrację widm masowych, profili głębokościowych, dwu- i trójwymiarowych map rozkładów pierwiastków, w tym również obrazowania obszarów makroskopowych. System grzania i chłodzenia pozwala na analizę próbek w temperaturach od -150°C do 600°C. Urządzenie wyposażone jest w komorę preparacyjną, w której można prowadzić pomiary stymulowanej termicznie desorpcji oraz modyfikować powierzchnie próbek za pomocą wiązki jonów lub elektronów.

System tworzenia warstw gradientowych

dr hab. Jakub Rysz tel: 12 664 47 21, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl System tworzenia warstw gradientowych pozwala na przygotowanie warstw metodą rozciągania roztworu za pomocą ostrza (dr. blade) lub pręta (h-dipping).

Układ do badania własności magneto-transportowych i kalorymetrycznych w bardzo niskich temperaturach

dr hab. Michał Ramstel: 12 664 45 15, e-mail: m.rams@uj.edu.pl Układ do badania własności magneto-transportowych i kalorymetrycznych w bardzo niskich temperaturach. Głównym elementem układu jest system PPMS firmy Quantum Design wyposażony w magnes nadprzewodzący i opcję chłodzenia przy użyciu helu-3. W ten sposób możliwe jest otrzymywanie w komorze próbki temperatur od 400K do 0.4K, oraz pól magnetycznych do 9T. Możliwe jest wykonywanie pomiarów: • pojemności cieplnej próbek metodą relaksacyjną; typowy pomiar kilkudziesięciu punktów w zakresie 2-300 K trwa około dobę, wcześniej należy zmierzyć sygnał od mocowania próbki, który jest automatycznie odejmowany; • oporu właściwego metodą czterokontaktową, zakres prądów 50nA-5mA. Pomiary poniżej 2 K trwają znacznie dłużej, pomiary poniżej 2K w polu magnetycznym wymagają dodatkowych, długotrwałych kalibracji.

Układ pomiarowy do kątowo-rozdzielczej spektroskopii fotoelektronów - ARPES

prof. dr hab. Jacek Kołodziejtel. 12 664 4838, e-mail: jj.kolodziej@uj.edu.pl Układ pomiarowy do kątowo-rozdzielczej spektroskopii fotoelektronów (ARPES)

Waga magnetyczna typu Faradaya z kriostatem

dr hab. Zbigniew Tomkowicztel: 12 664 45 96, 12 664 47 92, e-mail: z.tomkowicz@uj.edu.pl Urządzenie służące do pomiaru podatności magnetycznej ciał stałych i ciekłych w zakresie temperatur od 3.0 K (zakres pola do 1 T) do 500 K (zakres pola do 2 T). Urządzenie może być uruchomione bez ciekłego helu, z możliwością nie przesuwania próbki w celu centrowania. Zasada działania opiera się na pomiarze siły działającej na próbkę zawieszoną w niejednorodnym polu magnetycznym. Dokładność ważenia wynosi 0.1 ug. Mechanizm wagi znajduje się w termostatowanej głowicy. Do pomiaru w temperaturach wyższych używany jest piecyk, a do pomiaru w temperaturach niższych kriostat przepływowy. Kriostat posiada okienko do zbadania, czy próbka wykazuje efekt fotomagnetyczny. Możliwość badań właściwości magnetycznych nisko wymiarowych, wolno relaksujących magnetyków, w tym materiałów ważnych biologicznie, jak np. centra aktywne metaloenzymów.

Waga powierzchniowa LB (Langmuira-Blodgett)

prof. dr hab. Kazimierz Łątkatel: 12 664 46 68, e-mail: uflatka@cyf-kr.edu.pl Przyrząd umożliwia tworzenie na swobodnej powierzchni wody lub roztworów wodnych warstwy monomolekularnej (utworzonej dla przykładu z fizjologicznie czynnych substancji), tzw. monowarstwy Langmuira, która może być skomprymowana do zadanego ciśnienia (odpowiadającego określonej orientacji cząsteczkowej), a następnie wyniesiona na podłoża stałe (technika Langmuira-Blodgett). Monowarstwę naniesioną na swobodną powierzchnię wody (lub wodnego roztworu) na wadze Langmuira spręża się za pomocą ruchomej barierki, zaś ciśnienie powierzchniowe podczas sprężania rejestruje się za pomocą tensjometru co pozwala na wyznaczenie zależności ciśnienia powierzchniowego od powierzchni przypadającej na cząsteczkę. Taka zależność mierzona w stałej temperaturze (izoterma π-A) stanowi najbardziej podstawowy sposób opisu zjawisk zachodzących w monowarstwie podczas jej kompresji/ekspansji. Na podstawie zarejestrowanych izoterm π-A można wnioskować o: • stanie fizycznym monowarstwy, • rodzajach przejść fazowych występujących podczas kompresji/ekspansji filmu, • reakcjach zachodzących w monowarstwach itp.

Wielofunkcyjny system pomiaru fizycznych parametrów mowoczesnych materiałów PPMS

dr hab. Stanisław Barantel: 12 664 46 86, e-mail: stanislaw.baran@uj.edu.pl Wielofunkcyjny system PPMS prod. Quantum Design, Inc. (USA) umożliwia pomiar: • momentu magnetycznego w zakresie temperatur 1.9-400K • oporu elektrycznego w zakresie temperatur 1.9-400K • pojemności cieplnej w zakresie temperatur 1.9-400K • pól magnetycznych do 90 kOe (9 T). Wymagana masa próbki to kilkadziesiąt mg.

Zestaw do spektroskopii mössbauerowskiej z wyposażeniem dodatkowym i oprogramowaniem

prof. dr hab. Kazimierz Łątkatel: 12 664 46 68, e-mail: uflatka@cyf-kr.edu.pl W skład zestawu wchodzą: • kriostat helowy firmy Janis z 9 T magnesem nadprzewodzącym, • zasilacz magnesu, • układ pompowy do wysokiej i niskiej próżni, • kontroler temperatury (LakeShore), • spektrometr mössbauerowski (SEE CO) przystosowany do pracy w geometrii pionowej umożliwiający pracę z równocześnie chłodzonym źródłem i absorbentem • sterujący instrumentem zestaw komputerowy wraz z niezbędnym oprogramowaniem. Powyższy zestaw pozwala na prowadzenie badań z zakresu spektroskopii rezonansowej gamma wszelkich materiałów o charakterze ciało-stałowym zawierających w swoim składzie izotopy mössbauerowskie w szerokim zakresie temperatur 1.3 K - 300 K przy zastosowaniu silnych pól magnetycznych do 9 T. W szczególności układ ten umożliwia badania materiałów magnetycznych i biologicznych gdzie zastosowanie silnych pól magnetycznych pozwala na uzyskanie szczegółowych informacji dotyczących struktury elektronowej badanych susbstancji.

Zintegrowany system do syntezy i diagnostyki nanostruktur w warunkach ultrawysokiej próżni i w ekstremalnych temperaturach

prof. dr hab. Marek Szymońskitel: 12 664 45 60 e-mail: ufszymon@cyf-kr.edu.pl Zintegrowany uklad do obrazowania i manipulacji obiektami w skali nano jest urządzeniem unikatowym w skali światowej. Wyjątkowość polega na połączeniu w jednym urządzeniu: • niskotemperaturowego mikroskopu sondy skanujacej (pracującego zarówno w trybie STM, jak i ncAFM w zakresie temperatur od 4K do temperatury pokojowej, • czteropróbnikowego mikroskopu tunelowego sprzęgnietego z • wysokorozdzielczym mikroskopem elektronowym i • hemisferycznym analizatorem energii elektronów, • komory operacyjnej. Takie zestawienie elementów najwyższej klasy pozwala na prowadzenie za pomocą jednego urządzenia kompleksowych eksperymentów łączących w sobuie syntez e/fabrykację oraz charakteryzację nanostruktur w kontrolowanych warunkach ultra-wysokiej próżni (ciśnienia na poziomie 10-10 hPa i niższym).